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來自德國aixACCT公司的TFANALYZER2000E/3000是擴展性極強的模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功廴能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯用，可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的研究。
模塊化設計的TFAnalyzer2000E/3000具有優異的擴展性。
FE模塊-鐵電標準測試；
MR模塊-磁阻和鐵性材料測試；
RX模塊-弛豫電流測試；
DR模塊-自放電測試。
TFAnalyzer2000E:
測試基本單元：包括內置完整的專用計算機主機和測試版路、運算放大器、數據處理單元等，欣源科技（北京）有限公司，欣源科技（北京），Windows7操作系統、鐵電分析儀專用測試軟件等。
FE模塊標準測試功能：
DynamicHysteresis動態電滯回線測試頻率（標準FE模塊0.001Hz~5kHz）；
StaticHysterestic靜態電滯回線測試；
PUND脈沖測試；
Fatigue疲勞測試；
Retention保持力；
Imprint印跡；
Leakagecurrent漏電流測試；
ThermoMeasurement變溫測試功能。
FE模塊可選測試功能：
C-Vcurve電容-電壓曲線；
PiezoMeasurement壓電性能測試；
PyroelectricMeasurement熱釋電性能測試；
In-situCompensation原位補償；
DLCC動態漏電流補償功能。
技術說明：
電壓范圍： /-25V（可選的附加高壓放大器可擴展至/-10KV）；
電滯頻率：5kHz（標準FE模塊）；
最小脈沖寬度：2μs；
最小上升時間：1μs；
電流放大范圍：1pA～1A；
最大負荷電容：1μF；
輸出電流峰值：/-1A。
可擴展部件：
高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測試平臺、超導磁體、PPMS等。
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TFAnalyzer3000:
測試基本單元：包括內置完整的專用計算機主機和測試版路、運算放大器、數據處理單元等，Windows7操作系統、鐵電分析儀專用測試軟件等。
FE模塊標準測試功能：
DynamicHysteresis動態電滯回線測試頻率（增強型FE模塊250kHz，高速增強型FE模塊1MHz）；
StaticHysterestic靜態電滯回線測試；
PUND脈沖測試；
Fatigue疲勞測試；
Retention保持力；
Imprint印跡；
Leakagecurrent漏電流測試；
ThermoMeasurement變溫測試功能。
FE模塊可選測試功能：
C-Vcurve電容-電壓曲線；
PiezoMeasurement壓電性能測試；
PyroelectricMeasurement熱釋電性能測試；
In-situCompensation原位補償；
DLCC動態漏電流補償功能；
ImpedanceMeasurement阻抗測試(僅適用于高速增強型)。
技術說明：
電壓范圍： /-25V（可選的附加高壓放大器可擴展至/-10KV）；
電滯頻率：增強型FE模塊250kHz，高速增強型FE模塊1MHz；
最小脈沖寬度：50ns；
最小上升時間：10ns；
最大疲勞頻率：20MHz；
電流放大范圍：1pA～1A；
最大負荷電容：1nF；
輸出電流峰值：/-1A。
可擴展部件：
高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測試平臺、超導磁體、PPMS、阻抗分析儀等。
MR模塊是用來研究磁阻和鐵性材料的。
此模塊提供連續電流激勵和測試，樣品上的電壓降通過高精度四點測試。
RX模塊是用來研究介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應。
該測試能將材料的馳豫電流和漏電流分開，.欣源科技（北京）|||鐵電分析儀
，并可記錄極化響應電流和去極化響應電流。
DR模塊用于研究電介質材料的自漏電性。
由于測試條件非常接近實際情況，因此通過這種方式可容易地測試應用于DRAM材料的合適性。
針對工業方面的應用，TFAnalyzer2000E/3000提供了256個自動測試的通道，大大擴展了該儀器的測試功能。
以上所有的模塊可根據您的測試需求以及科研方向進行獨立選擇或者任意組合。
欣源科技SYNERCE獨家代理德國aixACCT公司鐵電壓電熱釋電分析儀等系列產辶品，.欣源科技（北京）|||鐵電分析儀
，包括：
鐵電分析儀(鐵電測試儀、TF2000E、TFAnalyzer2000E/3000、極化測量儀)/壓電分析儀(壓電測試儀)/熱釋電分析儀(熱釋電測試儀)，壓電材料綜合表征系統aixPES、多鐵材料磁電磁阻測試儀aixPES-MR、高低溫塊體壓電分析儀aixPES-600/800、電卡效應測試儀ECM、熱激發極化電流測試儀TSDC、超薄薄膜壓電雙光束激光干涉儀aixDBLI、陶瓷多層執行器測試儀(aixCMA、陶瓷多層驅動器測試儀、陶瓷多層電容器測試儀)，機電薄膜e31測試儀aix4PB、阻變式存儲器測試儀RRAM、鐵電遲豫電流測試儀aixPES-RX、鐵電自放電測試儀aixPES-DR、鐵電隨機存儲器測試儀FeRAM、熱電性能測試儀COMTESSE(塞貝克系數測試儀)。

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